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Cámara de envejecimiento acelerada temperatura completa del cielo y tierra del sistema de prueba de memoria Flash

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Certificación
China Hai Da Labtester certificaciones
China Hai Da Labtester certificaciones
Comentarios de cliente
Recibimos sí la máquina la semana pasada. Esta máquina era agradable, y agradece los serives de las después-ventas, era muy profesional.

—— Peter Mosa

El probador del flujo del derretimiento está trabajando muy bueno. La entrega era más rápida que espera, sus memembers del equipo de los servies de las después-ventas eran agradables, y el soporte técnico era perfecto.

—— Steve Hubbard

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Cámara de envejecimiento acelerada temperatura completa del cielo y tierra del sistema de prueba de memoria Flash

Cámara de envejecimiento acelerada temperatura completa del cielo y tierra del sistema de prueba de memoria Flash
Cámara de envejecimiento acelerada temperatura completa del cielo y tierra del sistema de prueba de memoria Flash

Ampliación de imagen :  Cámara de envejecimiento acelerada temperatura completa del cielo y tierra del sistema de prueba de memoria Flash

Datos del producto:
Lugar de origen: China
Nombre de la marca: Haida
Número de modelo: HD-512-NAND
Pago y Envío Términos:
Cantidad de orden mínima: 1set
Precio: 5000-12000 USD
Detalles de empaquetado: Caso de madera fuerte
Tiempo de entrega: 30 días después de la orden
Condiciones de pago: L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union, MoneyGram
Capacidad de la fuente: 150 sistemas/meses
Contacto

Cámara de envejecimiento acelerada temperatura completa del cielo y tierra del sistema de prueba de memoria Flash

descripción
Exhibición: Pantalla LCD color Modo de operación: modo de programa, modo del valor fijo
Uniformidad de la temperatura: ≤±2℃ velocidad de calentamiento: 5℃/min (enfriamiento mecánico, bajo carga estándar)
Alta luz:

Sistema de prueba completo de envejecimiento acelerado de memoria Flash

,

Sistema de prueba de memoria Flash de la baja temperatura

,

Cámara de envejecimiento acelerada de la baja temperatura

Cámara de envejecimiento acelerada temperatura completa del cielo y tierra del sistema de prueba de memoria Flash

 

especificación de producto

El sistema de prueba inteligente del microprocesador de memoria Flash HD-512-NAND es un sistema de prueba completo de memoria Flash que puede modificar el plan de prueba para requisitos particulares y apoyar la prueba paralela de diversos tipos de partículas de memoria Flash. 64 tipos, el número máximo de prueba de las partículas de memoria Flash paralelamente pueden alcanzar 512.

 

El sistema de prueba inteligente del microprocesador de memoria Flash YC-512-NAND apoya modelos de prueba múltiples y funciones de encargo del parámetro de la prueba, y puede proveer de proceso básico de la prueba del uno-tecleo y de proceso de alto nivel de la prueba alta flexibilidad, no sólo puede realizar la vida restante de las partículas de memoria Flash, medida real, retención de los datos y leer interferencia y otras pruebas funcionales puede también ayudar a usuarios a verificar la situación de la confiabilidad de las partículas de memoria Flash. Después de que se termine la prueba, el informe de prueba se puede exportar fácilmente y rápidamente con una llave, proveyendo de clientes los datos de prueba gráficos más intuitivos y más exactos. Proporcione la referencia de datos más intuitiva para la clasificación del grado y el uso de las partículas de memoria Flash, y realice la clasificación inteligente basada en los resultados de la inspección de la calidad de las partículas de memoria Flash.

 

El ※ la base de la prueba cumple con el soporte No.218 de JEDEC: Requisitos de la impulsión de la asociación B-2016 de la tecnología (SSD) y prueba de resistencia de estado sólido de estado sólido Motho;

 

El ※ la base de la prueba cumple con JEDEC No.47 estándar NVCE: Calificación Tensión-Prueba-conducida asociación de estado sólido de la tecnología de circuitos integrados;

 

El ※ las especificaciones del diseño del tablero de prueba cumple los requisitos del ambiente de la temperatura de la prueba del industrial-grado;

 

Información

 

Tamaño interno de la caja W760×D400×H890mm
Tamaño externo de la caja W1870×D890×H1830mm
volumen 270L
Método de apertura Sola puerta (derecha ábrase)
cámara de enfriamiento refrigerado
peso sobre 950KG
fuente de alimentación CA 380V cerca de 7,5 kilovatios

 

Parámetro de la temperatura

gama de temperaturas -70℃~150℃
Fluctuación de la temperatura

≤±0.5℃

≤±1℃
compensación de la temperatura ≤±2℃
resolución de la temperatura 0.01℃
Velocidad de calentamiento 5℃/min (enfriamiento mecánico, bajo carga estándar)
tarifa del cambio de temperatura

La temperatura alta puede resolver ajustable no lineal 5℃~8℃/min (medido en el mercado de aire, la refrigeración mecánica, bajo carga estándar), baja temperatura puede resolver 0℃~2℃/min no lineal

Ajustable (medido en el mercado de aire, enfriamiento mecánico, bajo carga normal)
uniformidad de la temperatura ≤±2℃
carga estándar 10KG bloque de aluminio, carga 500W;

 

Estándar de la prueba

Equipo de prueba de la temperatura GB/T5170.2-2008

 

GB/2423.1-2008 (IEC60068-2-1: 2007) métodos de prueba AB de la baja temperatura.

 

GB/2423.2-2008 (IEC60068-2-2: 2007) VAGOS des alta temperatura del método de prueba.

 

Método de prueba de alta temperatura GJBl50.3 (MIL-STD-810D).

 

Método de prueba de la baja temperatura GJBl50.4 (MIL-STD-810D).

 

Sistema de control

Exhibición Pantalla LCD color
Modo de operación Modo de programa, modo del valor fijo
Ajuste Menú chino e inglés (opcional), entrada de la pantalla táctil
Determinación de la gama Temperatura: Ajuste según la gama del funcionamiento de la temperatura del equipo (límite superior +5°C, un límite más bajo -5°C)

 

resolución de pantalla

Temperatura: 0.01°C

Tiempo: 0.01min

 

 

método de control

BTC equilibró el método + DCC (control de enfriamiento inteligente) del control de la temperatura + DEC (control eléctrico inteligente) (el equipo de prueba de la temperatura)

BTHC equilibró temperatura y método de control de humedad + DCC (control de enfriamiento inteligente) + DEC (control eléctrico inteligente) (el equipo de la temperatura y de prueba de la humedad)

 

Función del expediente de la curva

 Tiene PEGAR con la protección de la batería, que puede ahorrar el valor determinado, muestreando valor y muestreando la época del dispositivo; el tiempo de registración máximo es 350 días (cuando el período de muestreo es 1.5min)

 

 

 

Función accesoria

Critique la alarma y la causa, procesando la función pronto

Función de la protección del poder-apagado

Función superior y más baja de la protección de la temperatura límite

Función de temporización del calendario (el comienzo y automáticos automáticos paran la operación)

función del autoexamen

 

etiqueta:

equipo de laboratorio electrónico,

equipo de la prueba de laboratorio,

Sistema de prueba completo de envejecimiento acelerado de memoria Flash

Contacto
Hai Da Labtester

Persona de Contacto: Kelly

Envíe su pregunta directamente a nosotros (0 / 3000)

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